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高纯锗γ探测器面源效率函数及其应用研究

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摘要

给出了高纯锗(HPGe)γ探测器面源效率随高度变化的经验函数,并提出了利用体标准源和遗传算法确定面源效率函数参数的方法.对已知双层模拟样品中的226Ra、232Th和40K进行了分析,结果与已知数据吻合,表明利用面源效率函数对其中放射性核素为一维非均匀分布的样品进行非破坏性分析是可行的.

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来源
《核技术》|2007年第5期|438-441|共4页
作者
王崇杰; 程松; 张爱莲;
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作者单位

辽宁师范大学物理与电子技术学院,大连,116029;

辽宁师范大学物理与电子技术学院,大连,116029;

辽宁师范大学分析测试中心,大连,116029;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TL817.2;
关键词
高纯锗γ探测器; 面源效率; 遗传算法; γ能谱分析;

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