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162~1200keV能区^(174)Hf中子俘获截面的测量

         

摘要

作者用活化法相对于Au的中子俘获截面,测量了162~1200keV能区174Hf(n,γ)175Hf的反应截面,测量误差为6.1%~7.2%,在现有文献中还未见有关该反应截面的测量数据.

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