基于单边光学微腔中量子点自旋辅助的自避错纠缠态分析

摘要

在单边光学微腔中量子点自旋的辅助下,我们提出了自避错的受控相位反转(CPF)门以及光子量子比特的Bell态分析(BSA)方案以及量子点自旋的GHZ态的完全无损分析.在这些方案中,单光子探测可以预示错误的出现,这大大提高了它们的可靠性,与以往的由光子与量子点腔系统相互作用辅助的方案有很大的不同.我们的受控相位反转门方案和量子点自旋的GHZ态分析可以重复进行直到成功.这些特性使我们的方案在未来的量子通信中更加有用.