首页> 中文期刊> 《上海大学学报:自然科学版》 >发射光谱法测定复合型电接触材料的成份

发射光谱法测定复合型电接触材料的成份

         

摘要

本文报道了采用固体稀释处理后,以摄谱法成功地分析了新型复合电触头材料粉体 Ag80( W C70 Ti C30)17 C3 中主成份银、钨、钛的含量.其相对偏差为0.26% ,摄谱法本身的标准偏差为 0.294.文中还对由于对试样进行固体稀释处理而可能引入的误差。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号