多层次测试包:一种用于系统层设计的C/C++门组件层故障模拟的测试包

所美也 萨迪格 可汗; 法特穆 加瓦河瑞; 斯纳 默哈莫蒂; 在那拉贝定 纳瓦比

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提出了一种多层次测试包(MLT)用来测试系统层的设计.该包可以被用来测试由门组件层C+ +代码和C+ +复杂函数构成的混合设计.电路部件在高功能层上被描述,而C+ +函数被用来描述门组件层的部件.测试工具可用高层C+ +函数的模拟来用于门组件层部件.使用这个包避免了将被测试部件转换成硬件描述语言,同时也提高了测试应用程序的模拟速度.

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来源
《上海师范大学学报（自然科学版）》|2010年第5期|472-477|共6页
作者
所美也萨迪格可汗; 法特穆加瓦河瑞; 斯纳默哈莫蒂; 在那拉贝定纳瓦比;
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作者单位

德黑兰大学,ECE系CAD研究小组,德黑兰,伊朗;

德黑兰大学,ECE系CAD研究小组,德黑兰,伊朗;

伊朗科学技术大学,CE系,德黑兰,伊朗;

德黑兰大学,ECE系CAD研究小组,德黑兰,伊朗;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类程序设计、软件工程;
关键词
TLM; 测试; 系统级设计; 故障模拟; C++;
入库时间 2023-07-25 21:05:34

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