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电流冲击对长波光导MCT探测器的影响

         

摘要

对长波光导MCT红外探测器进行了大电流长时间的冲击,对比了冲击前后探测器的电阻温度特性,并用该参数研究了器件的电学参数;测量了冲击前后探测器的黑体性能变化、响应光谱以及少子寿命.实验结果显示:短时间(42mA,70h)的电流冲击对探测器性能影响不大,探测器组分减小,截止波长变长;冲击时间长到(42mA,100h)一定程度后,探测器性能有不同程度的下降,组分变大,截止波长变短.这是因为电流产生的热效应加强了Hg扩散效应,从而使器件截止波长发生变化.

著录项

  • 来源
    《半导体学报》 |2006年第z1期|314-317|共4页
  • 作者单位

    中国科学院上海技术物理研究所;

    传感技术国家重点实验室;

    上海;

    200083 中国科学院上海技术物理研究所;

    传感技术国家重点实验室;

    上海;

    200083 中国科学院上海技术物理研究所;

    传感技术国家重点实验室;

    上海;

    200083 中国科学院上海技术物理研究所;

    传感技术国家重点实验室;

    上海;

    200083 中国科学院上海技术物理研究所;

    传感技术国家重点实验室;

    上海;

    200083 中国科学院上海技术物理研究所;

    传感技术国家重点实验室;

    上海;

    200083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 半导体光电器件;
  • 关键词

    电流冲击; MCT; 光导探测器; 响应光谱; 少子寿命;

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