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一种改进的VLSI关键面积计算模型和方法

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摘要

从故障机理上研究了现有的关键面积计算模型 ,改进了其开路 /短路关键面积计算模型的故障核 ,从而得到适用于一般版图图形结构的关键面积计算方法 .这对计算 VL SI关键面积、指导版图优化设计和提高 IC成品率有重要意义 .

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来源
《半导体学报》 |2001年第9期|1212-1216|共5页
作者
马佩军; 郝跃; 寇芸;
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作者单位

西安电子科技大学微电子所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类大规模集成电路、超大规模集成电路;
关键词
关键面积计算模型; 成品率; VLSI; 集成电路;

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