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基于改进二进制粒子群算法的LFSR种子优化方法研究

             

摘要

为降低BIST测试功耗,采用一种改进的二进制粒子群算法对LFSR种子进行优选,使测试图形的长度得到减小进而降低了测试功耗;以ISCAS'85 benchmark电路作为测试对象,同时用粒子群算法和模拟退火算法进行实验,通过对比结果证明了该方法简单有效,可以在不增加硬件开销的情况下大幅度降低BIST测试功耗.

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