点缺陷、线缺陷耦合THz波全光开关特性研究

摘要

采用基于时域有限差分技术的数值模拟方法，研究了点缺陷和线缺陷复合的光子晶体结构，分析了在不同功率强度下入射光的透射行为。分析结果发现，当入射光频率与缺陷模谐振频率相等时，点缺陷束缚入射光，入射光透射率表现为“断”的状态；当入射光频率与缺陷模中心频率不相等时，入射光透射率表现为“通”的状态。而改变入射光功率强度会使缺陷模的位置发生移动，从而实现了THz波透射率调制的功能。该结论为设计THz波全光开关提供了重要依据。