电容近炸引信高频部件储存性能试验研究

摘要

对实际非密封储存2、4、6~12年的引信高频部件进行储存性能检测试验,结果表明,高频部件失效存在振荡电压峰峰值降低失效和检波电压降低失效两种;从储存第6年开始出现失效,储存6~12年分别失效4、5、7、10、7、6、10发;振荡电压峰峰值和检波电压均值均有下降趋势,但振荡频率和饱和检波电压未失效。