X射线荧光光谱测定纯铜样品中微量和痕量杂质元素

摘要

以英国进口的纯铜标准样品制作工作曲线 ,采用专用的空白标样和多点多项式方法计算峰底背景。用干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正 ,部分重金属痕量元素选择高反射率的人工晶体PX - 9来测定 ,开发了用X射线荧光光谱测定纯铜样品中除Cu外 18个痕量杂质元素的方法。用该方法测定纯铜标准样品 ,其测试结果与直读光谱测定值基本相符 ,回收率在 95 %～ 10 5 %范围 ,各元素的相对标准偏差RSD %均小于 5 .0 %