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郭常霖;
中国科学院上海硅酸盐研究所;
X射线衍射; 点阵常数; 低对称晶系; 晶态材料;
机译:低k低介电常数的低低间电常数力学性能材料评价的隔离材料评价
机译:低入射角光谱椭偏法精确测定织构的SnO_(2)的光学常数
机译:人牙釉质的电子显微镜和X射线衍射晶体结构:六方晶系还是单斜晶系?
机译:精确测定锯速度测量压电晶体的材料常数
机译:同步加速器粉末X射线衍射法精确测定铝和钼的结构
机译:人工神经网络在精确测定生物组织复合介电常数中的应用
机译:一种通过掠射角实验室X射线衍射精确测定薄氧化膜的方法
机译:高压脉冲激发光散射:精确测定不透明材料的弹性常数
机译:交叉点阵列及其与交叉点阵列一起使用的方法,该交叉点阵列具有具有固体电解质材料的交叉开关元件,该固体电解质材料用作具有对称或基本对称的电阻存储器的整流器
机译:交叉点阵列及其与交叉点阵列一起使用的方法,该交叉点阵列具有具有固体电解质材料的交叉开关元件,该固体电解质材料用作具有对称或基本对称的电阻式存储器的整流器
机译:低,介电常数正切材料,低是具有零介电常数正切的介电常数0.50
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