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曾华荣; 方健文; 惠森兴; 李国荣; 殷庆瑞;
中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室,上海,200050;
纳米尺度; 铁电畴; 扫描力显微镜;
机译:使用开尔文探针力显微镜的扫描非线性介电显微镜和电场校正对纳米级铁电畴进行三维观察
机译:高真空扫描力显微镜中的铁电畴成像机理
机译:真空扫描力显微镜中的铁电畴成像机理
机译:通过扫描力显微镜以亚微米分辨率成像铁电畴
机译:具有近场扫描光学显微镜的单铁电畴壁的移动性和内部领域的纳米级研究
机译:通过扫描X射线纳米束显微镜和电子背散射衍射在拓扑绝缘体Bi2Te3和Bi2Se3外延薄膜中进行双畴成像
机译:用扫描力显微镜观察铁电薄膜的非对称纳米尺度转换
机译:用扫描力显微镜研究铁电薄膜偏振保持损耗的纳米尺度
机译:纳米尺度测量标准样品和使用纳米尺度测量标准样品校准扫描型显微镜的方法
机译:纳米尺度上具有贵金属粒子和偏振依赖性测量的拉曼光谱系统和扫描探针显微镜系统
机译:扫描隧道显微镜及其使用的纳米尺度表面观察方法
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