扫描探针显微镜研究弛豫铁电体电畴生长

摘要

本文研究了典型弛豫铁电陶瓷0．9PMN－0．1PT中的电畴生长过程．用扫描探针显微镜的轻敲模式和抬举模式对驰豫铁电陶瓷的表面形貌和电场力像进行了观察．结果表明，在施加不同针尖电压（0．05、0．5、1V）的情况下，能够诱导材料中纳米尺度极化微区通过沿＜111＞方向180°反转，从而形成亚微米尺度电畴．