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中山大学光电材料与技术国家重点实验室,物理系,广东,广州,510275;
香港理工大学,应用物理系和材料研究中心;
BaxSr(1-x)TiO3,多层膜,椭偏光谱,光学常数;
机译:Ga_(1-x)Cr_xN(0≤x≤0.1)合金膜的真空紫外光谱椭偏研究
机译:PECVD a-Si 1-x sub> C x sub>:H膜的椭偏,FTIR,拉曼光谱和X射线光谱分析
机译:大日本丝网株式会社制造的光谱椭偏仪式膜厚计。实现非接触,无损,简便,高精度的测定。光谱椭偏法的进一步应用开发。
机译:介孔TiO_2多层膜的光谱椭偏测量及模拟。
机译:通过光谱椭偏仪对传感器膜动力学进行原位研究。
机译:自交联壳聚糖/藻酸盐的结构研究原位QCM-D和光谱法的二醛多层膜椭偏仪
机译:Co / pt多层膜中的光谱椭偏仪和磁光克尔效应
机译:使用光致发光和光谱椭偏仪测量si(sub 1-x)C(sub x)/ si(0(le)x(le)0.014)合金的带隙测量
机译:光谱椭偏仪的焦距调整方法,膜厚测量装置和光谱椭偏仪
机译:光谱椭偏仪,膜厚测量装置以及在该光谱椭偏仪中聚焦的方法
机译:光谱式椭偏仪,膜厚测量装置以及在光谱式椭偏仪中的聚焦方法
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