非完美探测效率对半设备无关量子随机数扩展的影响

摘要

半设备无关量子随机数扩展相对于设备无关方案的优势在于不需要量子纠缠,更易于实现,但在实际条件下的可行性受到非完美探测效率限制.文章在二维维度目击不等式中引入探测效率参数,探究非完美探测效率对半设备无关随机数扩展的影响.将未探测事件作为结果保留时,可得在相同维度目击值下较低的探测效率对应的实验中量子态和测量过程蕴含更多的随机性.将未探测事件随机赋值,通过SDP优化算法得到可进行半设备无关随机数扩展的探测效率下界为95.7％.