点光栅化及反走样算法的研究与实现

摘要

图形处理器流水线中经典的点生成算法和点反走样算法便于实现，但采样点测试的计算量大并且存在冗余测试，为此提出了多采样扫描转换算法。该算法将多采样集中在边界片元，同时，利用点区别于其他图元的对称特性，减少了采样点的冗余测试，提高了多采样时扫描转换的性能。试验结果表明：文中算法在较小代价下达到了同样的反走样性能。