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一种利用局部保守光栅化方法实现硬阴影反走样的方法

摘要

本发明涉及一种利用局部保守光栅化方法实现硬阴影反走样的方法,其特征在于:构建光源为视点的阴影图,利用牛顿二阶差分测试深度的连续性,将阴影图分为连续区域Ca和不连续区域Da。再次以光源为视点,抽取三维场景表面可见三角面片信息,存储三角形的顶点信息F,对不连续区域Da实施保守光栅化方法,对连续区域Ca保留其离散深度值,构造深度图T2。根据纹素坐标保持两个深度图的对应关系,其过程可描述为:原始深度图T1,其分辨率为NXN,纹素坐标表示为T1i,j,其中1i,jN。其有效的降低了保守光栅化几何阴影图方法的计算的复杂度,而且保持了亚像素级硬阴影反走样的精度问题。

著录项

  • 公开/公告号CN107330965B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长春理工大学;

    申请/专利号CN201710437954.2

  • 申请日2017-06-12

  • 分类号G06T15/06(20110101);G06T15/20(20110101);G06T19/00(20110101);

  • 代理机构22100 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司;

  • 代理人王薇

  • 地址 130022 吉林省长春市卫星路7186号科技大厦B座1603室

  • 入库时间 2022-08-23 11:07:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-04

    授权

    授权

  • 2017-12-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T15/06 申请日:20170612

    实质审查的生效

  • 2017-11-07

    公开

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