集成电路方波注入损伤效应试验研究

摘要

为了准确测试方波脉冲注入对集成电路的影响,本文对GJB 538-88中的方波注入法进行了改进,通过设计专用测试夹具,解决了方波产生的辐射场及其高频反射对测试结果的影响,建立了由高频脉冲模拟器、专用测试夹具和示波器等组成的测试系统。利用该系统测试了74LS08的性能参数。