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离子束辅助沉积铪膜抑制栅电子发射性能研究

         

摘要

利用离子束辅助沉积(IBAD)方法在Mo栅极表面沉积铪膜,采用模拟二极管方法测量和比较阴极活性物质Ba、BaO蒸发在镀铪和纯钼栅极表面的电子发射性能.实验结果表明,镀铪栅极抑制电子发射性能较好,并初步探讨了离子束辅助沉积铪膜抑制栅电子发射的机理.

著录项

  • 来源
    《功能材料》 |2005年第11期|1673-1675|共3页
  • 作者单位

    中国科学院上海微系统与信息技术研究所,半导体功能薄膜工程技术研究中心,上海,200050;

    中国科学院上海微系统与信息技术研究所,半导体功能薄膜工程技术研究中心,上海,200050;

    中国科学院上海微系统与信息技术研究所,半导体功能薄膜工程技术研究中心,上海,200050;

    中国科学院上海微系统与信息技术研究所,半导体功能薄膜工程技术研究中心,上海,200050;

    中国科学院上海微系统与信息技术研究所,半导体功能薄膜工程技术研究中心,上海,200050;

    中国科学院上海微系统与信息技术研究所,半导体功能薄膜工程技术研究中心,上海,200050;

    中国科学院上海微系统与信息技术研究所,半导体功能薄膜工程技术研究中心,上海,200050;

    中国科学院上海微系统与信息技术研究所,半导体功能薄膜工程技术研究中心,上海,200050;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 稀有金属及其合金;
  • 关键词

    抑制电子发射; 铪; 离子束辅助沉积; 钼栅极;

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