化学吸附方法表征V2O5在活性焦上的分散性

摘要

V2O5在活性焦上的分散性很难用XRD、EXAFS等仪器表征.采用化学吸附法表征了V2O5在活性焦表面的团聚程度,核心是根据V2O5/AC中能吸附、氧化SO2的V2O5晶格氧(有效晶格氧)的量,度量V2O5分子的团聚程度.结果表明,在所采用的条件范围内,随V2O5负载量的增加,V2O5在活性焦表面的团聚程度加大,但团聚体的个数变化不大;活性焦比表面积、灰分含量、O和N含量的差异对V2O5的团聚程度没有影响.