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水流场PIV测试系统示踪粒子特性研究

             

摘要

粒子图像测速技术(PIV)是一种新的流场测量技术,通过对流场中的示踪粒子进行多次曝光成像,获得具有相关性的示踪粒子图像,利用软件对粒子图像进行处理后可得到被测流场的信息.水流场PIV测量利用合适的示踪粒子运动来表征流场状况,示踪粒子的特性对PIV最终测量结果影响很大.讨论了密度、直径、表面反射率等示踪粒子特性对系统实验测量的影响,并特别针对水流场斜入射离轴PIV测试,选择合适的特性参数设计研制了一种简单实用的水流场示踪粒子.通过在直径为100~200μm的聚苯乙烯微球上利用化学方法进行表面镀银,使示踪粒子具有高的光散射特性,实验结果表明这种微粒非常适合于水流场示踪.

著录项

  • 来源
    《实验流体力学 》 |2006年第2期|72-77|共6页
  • 作者单位

    中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安,710068;

    中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安,710068;

    中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安,710068;

    中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安,710068;

    中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安,710068;

    中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安,710068;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 水槽 ;
  • 关键词

    粒子图像测速 ; 示踪粒子 ; 离轴测试; 聚苯乙烯 ;

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