VLSI片上互连线电感提取技术及考虑电感效应的互连分析

何剑春; 严晓浪; 何乐年; 葛海通

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VLSI片上互连线电感提取技术及考虑电感效应的互连分析

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VDSM工艺下,芯片的高速、高集成度趋势使电磁耦合作用不容忽略;而电感效应的引入使VLSI设计和验证变得复杂.本文阐述了VLSI片上互连线电感提取技术现状及发展方向,对各类提取方法作了扼要比较;同时探讨了互连分析中包含电感效应时存在的部分问题和解决办法,以期作为提高VLSI设计、分析和验证效率的有效向导.

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来源
《电路与系统学报》|2002年第4期|67-71|共5页
作者
何剑春; 严晓浪; 何乐年; 葛海通;
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作者单位

浙江大学,电气工程学院VLSI设计研究所,浙江,杭州,310027;

浙江大学,电气工程学院VLSI设计研究所,浙江,杭州,310027;

浙江大学,电气工程学院VLSI设计研究所,浙江,杭州,310027;

浙江大学,电气工程学院VLSI设计研究所,浙江,杭州,310027;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计;
关键词
参数提取; 频变寄生电感; VLSI互连线;
入库时间 2023-07-25 22:14:10

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