首页> 中文期刊>电子显微学报 >基于扫描电镜原位拉伸EBSD-DIC微观变形研究方法

基于扫描电镜原位拉伸EBSD-DIC微观变形研究方法

     

摘要

本文提出了一种基于扫描电镜(SEM)的原位拉伸EBSD-DIC微观变形研究方法,对Inconel 718合金在原位拉伸变形过程中局部应变分布演化与形貌、晶粒取向、晶界演化的之间的关联性进行了研究,并对比了DIC方法与KAM方法研究局部应变分布的异同.实验结果表明:Inconel 718合金在原位拉伸过程中以滑移及晶粒转动等方式协同变形,在晶界及部分晶粒内出现了应变集中.晶界处应变演化规律DIC方法与KAM方法的结果保持一致,而晶粒内部的应变分布更适合使用DIC方法表征.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号