高分辨电子显微学与电子衍射相结合在测定晶体结构中的应用

摘要

本文简单介绍了高分辨电子显微学中测定晶体结构的尝试法及其局限法，以及以高分辨电子显微学与电子省射相结合为基础所建立的图像处理方法。并针对此图像处理方法提出了一种修正电子衍射强度的方法，它也建立在高分辨电子显微学和电子衍射相结合的基础上，文中重点介绍了此方法的步骤和应用效果。