电子衍射

摘要： 透射电子显微镜是解析沸石分子筛新结构、分析结构缺陷和研究活性位点等的有力工具.应用于分子筛研究的透射电子显微术总体上可以分为图像法和衍射法,包括透射电子显微镜和扫描透射电子显微图像、选区电子衍射和三维电子衍射,通常结合其中的几种方法进行分析.近年来,随着电子显微镜硬件性能的不断提升,特别是球差矫正器的广泛应用及各种适用于分子筛等电子束敏感材料的探测器和图像处理技术的不断革新,在原子尺度观察分子筛的结构已成为可能.此外,利用原位电子显微镜技术研究分子筛的生长和催化反应机理也在逐步展开.本文按电子显微镜方法分类,综述了近些年基于电子显微镜的分子筛研究,包括新结构解析、手性确认和金属负载等的最新进展.

摘要： 菊池衍射是用于材料科学的电子显微技术之一,而软件则是分析菊池衍射图的必要工具.SAKI是为这一需要而开发的Java软件.SAKI的主要功能包括模拟透射电镜菊池衍射图与使用具有三个菊池极的实验图谱确定晶体的精确方向.其中也包括二次衍射效应的单晶电子衍射图模拟.软件提供了对实验衍射图谱的加载与编辑,以及在模拟图谱中添加显示晶带轴、标定指数和多图标记等基本操作,模拟图谱可存为TIFF,JPEG和GIF文件格式.在SAKI软件中,采用了改进的确定晶体取向的方法.SAKI是蓝带(Landyne)套装软件中的组件,可用于电子衍射理论有关的课程教学并可作为材料科学研究工作中的分析工具.

摘要： 采用多种电子显微技术对AA2024-T3航空铝合金的局部腐蚀行为进行研究.结果表明:AA2024-T3铝合金的局部腐蚀主要以晶间腐蚀的形式出现,相对于晶界沉淀相,晶格储存能更为显著地影响晶间腐蚀的发展,促使其优先发生在晶格储存能更高的晶粒周围.研究结果有助于提高对航空铝合金晶间腐蚀机理的认识,并为航空铝合金的设计提供理论指导,对保障航空安全具有重要意义.

摘要： 他未过而立之年就完美解释电子衍射理论,发表论文在欧美学术界产生轰动效应;他多年来坚持给本科生上课,课堂有趣且惊喜连连;他学识渊博.年逾古稀依然对科研充满激情,敢于涉足新的领域……他就是中国科学院院士、香港中文大学(深圳)研究生院院长唐叔贤。

摘要： 电子衍射技术是解析晶体结构的基本手段之一,随着透射电子显微镜硬件设施的不断改善以及结构解析方法的发展,电子衍射在探究材料构效关系领域发挥着越来越重要的作用.本文主要介绍了本课题组在利用电子衍射解析结构方面的工作,以及国内外关于电子衍射技术发展的最新进展和展望.本课题组利用选区电子衍射及三维电子衍射技术,结合粉末X射线衍射、单晶X射线衍射、高分辨电子显微镜等表征手段,解析了许多复杂的晶体结构,包括无机功能材料、分子筛、共价有机框架材料等.

摘要： 本文论述了透射电子显微镜在近100年内的发展进程,并对其在低合金钢中纳米Cu析出相晶体结构的研究展开了举例描述.通过高分辨透射电子显微镜观察不同时效后低合金钢中Cu析出相发现,低合金含Cu钢中纳米Cu析出相的演化规律表现为:最初阶段,Cu原子从BCC Fe中分离并富集形成Fe和Cu原子共存的纳米颗粒;随着时效时间延长,纳米Cu团簇长大,达到临界尺寸后发生马氏体切变形成9R Cu;再继续增加时效,形成退火孪晶9R Cu;当退火孪晶9R Cu经历退周期性层错过程后,最终转变为FCC Cu.随后本文进一步对我国电子显微镜的发展提出了建议.

摘要： 目前学界对Cu2Se低温α相的结构仍未认识清楚,而解决这一问题对理解Cu2Se在相变过程中热电性能提升等特性具有重要意义.本文首次报道了由球差校正扫描透射电镜(STEM)拍摄到的沿α-Cu2Se [112]c带轴的原子级分辨率高角环形暗场(HAADF)像,揭示了由Se原子以多种形式有序起伏产生的复杂结构.结合电子衍射图谱,分析了包含不同层数、通过相互组合构成α-Cu2Se晶体的多种结构变体.使用QSTEM软件对构建的结构变体进行高分辨图像模拟,得到了与实验对应的HAADF像.该工作为更全面地理解α-Cu2Se的结构提供了新的重要信息.

摘要： 波性是原子或分子中电子的重要性质,但结构化学教材对电子波性概念的解释不够详尽.为降低学生在学习该概念时的难度,结合教学实践,尝试将电子波性的物理特征描述为微观环境中电子的运动没有确定的轨迹.通过详细的分析与讨论,多数学生较好地理解了电子波性的物理特征,并认识到正是电子的波性与粒性在不同条件下的转换,才产生了能同时体现出电子波粒二象性的衍射图谱.

摘要： 波性是原子或分子中电子的重要性质,但结构化学教材对电子波性概念的解释不够详尽。为降低学生在学习该概念时的难度,结合教学实践,尝试将电子波性的物理特征描述为微观环境中电子的运动没有确定的轨迹。通过详细的分析与讨论,多数学生较好地理解了电子波性的物理特征,并认识到正是电子的波性与粒性在不同条件下的转换,才产生了能同时体现出电子波粒二象性的衍射图谱。

摘要： This paper presents an experimental method, a geometric model, and an analytic procedure for understanding and calculating the dihedral angle between two inclined two-dimensional molybdenum disulfide(MoS2)nano-sheets. The experimental method includes taking electron diffraction patterns at different tilt angles and measuring the fine structure of each set of split diffraction spots. The measured data were taken into simulations to calculate the dihedral angles between the nano-sheets and the Ewald plane. These dihedral angles were used in a geometric model to obtain the dihedral angle between the two MoS2nano-sheets. It was determined that the dihedral angle between two MoS2nano-sheets was 156.6°(23.4°). The method described in this work is useful for and can be extended to solving geometric relationships between other two-dimensional nanomaterials.%本文使用高分辨透射电子显微和电子衍射方法研究二硫化钼二维纳米材料薄片的微观结构.实验记录了样品在不同倾转角度下的衍射图,分析确认了衍射图中的一些衍射斑点随倾转角度加大而出现分裂的现象.本文通过一个空间几何模型来解释衍射图中衍射斑点分裂现象的成因,认为样品中含有两片互相之间有一定夹角的二硫化钼纳米薄片.两个二维纳米薄片分别对应分裂衍射斑点中的一组.经过模拟计算,得出这两片二硫化钼纳米薄片的夹二面角为156.6°(23.4°).本文中的实验和模拟方法可以推广到对其它二维纳米材料薄片取向和相对空间方位的计算.

摘要： 本文将以间同聚丙烯、间同聚丁烯-1及其共聚体系为例，阐述电子显微镜在揭示间同聚丙烯和间同聚丁烯-1的不同晶格排列、共聚物的共晶行为及其缺陷的存在形式。从不同含量的共聚物电子衍射图可以看出，随其中以组分的增加，共晶衍射图中逐渐产生衍射条带，说明共结晶形成的单晶中逐渐产生缺陷，根据电子衍射的变化规律，能够准确给出缺陷的存在形式和变化规律。

摘要： 本文通过对GeZ Sbz Te，非晶薄膜进行电子衍射实验，分析发现，当电子衍射数据中包含有非弹性散射等影响因素时，其RDF结果将受到极大的影响，主要表现为峰强明显降低。

摘要： 本文提出了一种新的表达电子衍射相对强度的经验公式。通过扫描仪将电子衍射谱底片转变成灰度图像,在分析衍射斑点的灰度侧视分布图的基础上,探讨衍射强度、结构因数和灰度积分值之同内在关系,提出了衍射斑点灰度积分值与其相对强度的关系式,并借助巳知晶体验证了上述关系式,研究结果为电子衍射斑点相对强度数字化提供了理论基础。

摘要： 电子衍射实验是以诺贝尔物理学奖为背景开发的传统的近代物理实验题目,其原来系统是利用暗室环境底片曝光的方式得到薄膜衍射圆环。本论文中,我们利用离子溅射镀膜机镀膜方式制备不同厚度的薄膜,同时利用CCD现代测量与成像技术得到薄膜的实时的衍射圆环,还开发了兼图像采集处理与数据处理为一体的电子衍射软件程序,进行衍射圆环直径测量与数据处理,在教学实验中简便易行的实现了多晶纳米薄膜的晶格常数的标定。我们的工作改进了传统的实验系统,降低了实验误差,整合了实验室资源,丰富了近代物理实验教学内容。

摘要： 相变存储被认为是最具潜力的新一代存储技术(三星公司已将其用于该公司部分手机中),引起了人们的广泛关注.相变存储通常是利用材料在晶态与非晶之间的电阻率或折射率的差异,来进行"0","1"的存储.作为相变存储材料一般要求以下几点:相变速度快且相变可逆,非晶态稳定性好,相变循环次数达106等.GeSbTe系列材料被认为是迄今为止性能最为优异的相变存储材料,人们一直热衷于对其原位晶化、非晶化过程及结构演变的研究.PDF方法是通过衍射信息进行傅里叶变换处理得到实空间的结构信息的局域结构研究方法。利用电子衍射进行PDF研究并结合高分辨技术，可以对材料进行原位观察及结构研究。因此，该方法广泛用于非晶及纳米晶材料的结构研究。rn 本文利用透射电镜对Ge1Sb2Te4材料进行了原位加热晶化研究，并利用PDF方法对加热过程中结构演变过程进行了研究。发现该材料在130°C左右有部分晶粒出现，然而对应的SAED并无明显变化。140°C时非晶态转变为中间相面心立方结构，直到200°C结构仍保持为面心立方相，并且晶粒尺寸并未发生明显长大。250°C时中间相已完全转变为六方相，此时晶粒发生了明显的长大，从而导致原本均匀的多晶衍射环也出现了一些衍射斑。PDF研究结果显示:随着温度径向分布函数发生着变化，表现为前3个峰的峰位及半峰宽发生变化，同时峰的数量也越来越多，这些变化与材料的局域结构及有序化程度存在着密切关系。

摘要： 本文采用萃取复型分析技术,对低Si-Mn双相钢中的第二相粒子进行了研究。结果表明,钢中存在大量弥散分布的细小粒子,尺寸较大的粒子近似方形,含Ti量较高而舍Nb量较低;尺寸较小的粒子形状不规则;且有个别尺寸较大的粒子存在,成份分析得也是含Ti、Nb的粒子,电子衍射表明粒子具有面心立方结构。

摘要： 双层钙钛矿晶体La2-2xCa1+2xMn2O7一般具有Sr3Ti2O7类型的基本结构,空间群为I4/mmm,属于四方晶系,但对于不同的La掺杂量,晶格将畸变而使对称性改变.x=0.8的氧化物La0.4Ca2.6Mn2O7电子衍射的研究发现,a,b方向不等价,因此不属于四方晶系.电子衍射花样是互为90°畴的两套衍射花样叠加而成.对高分辨像和对应电子衍射花样的观察进一步说明了这一点.另外,有不符合I4/mmm空间群的衍射斑,为了能够对所有衍射斑进行标定,本文在四方单胞的基础上构建了正交单胞,a0=√2ar=0.533nm,co=cT=1.934nm,相对于四方单胞旋转45°.分析不同晶带轴的电子衍射花样出现的消光规律,确定可能的空间群为Bbmm(＃63)、Bb21m(＃36)和Bbm2(＃40)。

摘要： 本文较详细地阐明了电子背散射衍射技术EBSD的基本原理、实验分析方法,通过安装在场发射扫描电子显微镜上的电子背散射衍射系统,可以对块状样品进行材料微区范围内取向与结构的快速分析,使显微组织、微区成分与结晶学数据分析联系起来,电子背散射衍射技术EBSD成为现代材料科学研究的重要实验技术.

摘要： 本文较详细地阐明了电子背散射衍射技术EBSD的基本原理、实验分析方法,通过安装在场发射扫描电子显微镜上的电子背散射衍射系统,可以对块状样品进行材料微区范围内取向与结构的快速分析,使显微组织、微区成分与结晶学数据分析联系起来,电子背散射衍射技术EBSD成为现代材料科学研究的重要实验技术.

摘要： 本文较详细地阐明了电子背散射衍射技术EBSD的基本原理、实验分析方法,通过安装在场发射扫描电子显微镜上的电子背散射衍射系统,可以对块状样品进行材料微区范围内取向与结构的快速分析,使显微组织、微区成分与结晶学数据分析联系起来,电子背散射衍射技术EBSD成为现代材料科学研究的重要实验技术.

摘要： 一种用于超快电子衍射和超快电子显微镜的电子源装置，包括低功率微波信号源，移相器、固态放大器和速调管、衰减器和环流器，沿所述的低功率微波信号源输出的微波信号方向依次是第一移相器、固态放大器和速调管，在所述的速调管的输出端与功率分配器的输入端相连，该功率分配器将所述的速调管输出的兆瓦级微波信号分为两路：第一路微波信号依次经所述的第一衰减器和环流器输入到电子枪前部的1.5腔内，第二路微波信号依次经第二衰减器和第二移相器输入电子枪后部的单腔内。本发明将束流能散度由10

摘要： 本发明涉及一种太赫兹驱动电子脉冲加速的飞秒电子衍射装置。该装置包括飞秒激光器、分束镜、紫外激光脉冲发生装置、太赫兹脉冲发生装置、电子枪、电子聚焦装置、样品室、成像装置以及相机；飞秒激光器出射的飞秒激光通过分束镜后一束飞秒激光进入紫外激光脉冲发生装置，另一束飞秒激光通过反射镜进入太赫兹脉冲发生装置；电子枪接收紫外激光脉冲以及太赫兹脉冲进入电子枪腔室产生电子脉冲；电子聚焦装置安装在电子枪腔室和样品室之间；样品室内沿着电子脉冲出射的方向依次放置样品组件和成像装置；样品室的外部正对成像装置的位置放置相机。该装置可运行在反射或者透射模式，可进行可逆和不可逆过程的研究且兼具高亮度和高时空分辨。

摘要： 一种用于超快电子衍射和超快电子显微镜的电子源装置，包括低功率微波信号源，移相器、固态放大器和速调管、衰减器和环流器，沿所述的低功率微波信号源输出的微波信号方向依次是第一移相器、固态放大器和速调管，在所述的速调管的输出端与功率分配器的输入端相连，该功率分配器将所述的速调管输出的兆瓦级微波信号分为两路：第一路微波信号依次经所述的第一衰减器和环流器输入到电子枪前部的1.5腔内，第二路微波信号依次经第二衰减器和第二移相器输入电子枪后部的单腔内。本发明将束流能散度由10

摘要： 本发明实施例提供的对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法及系统，首先按照在对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集过程中获得的匹配采集干扰因素的环境干扰活动信息，提取具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布，然后确定所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征，假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件，确定与所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布对应的测试环境干扰事件，最后按照所述测试环境干扰事件以及所述三维电子衍射数据采集过程的环境干扰活动信息，对所述时空域映射特征进行干扰去噪。如此，可针对环境干扰活动进行智能决策分析，并由此进行干扰去噪处理，提高采集可靠性和稳定性。

摘要： 本发明公开了一种适用于超快电子衍射技术的超高压直流电子枪，该超高压直流电子枪，由高压直流电源、分压电路、阴极和多个阳极组成，且阴极与阳极通过耐高压陶瓷柱固定连接；所述阴极由金属铸造而成，且在正中心穿孔并镶嵌具有通光功能的材料；所述阳极端的个数由所加电压决定。通过上述方案，本发明达到了获得同时具有超亮度和超高时间分辨率的电子探针脉冲，而不会产生明显的时间抖动的目的，具有很高的实用价值和推广价值。

摘要： 公开了一种用于自动对准扫描透射电子显微镜以便旋进电子衍射映射数据的方法。

摘要： 本发明涉及一种太赫兹驱动电子脉冲加速的飞秒电子衍射装置。该装置包括飞秒激光器、分束镜、紫外激光脉冲发生装置、太赫兹脉冲发生装置、电子枪、电子聚焦装置、样品室、成像装置以及相机；飞秒激光器出射的飞秒激光通过分束镜后一束飞秒激光进入紫外激光脉冲发生装置，另一束飞秒激光通过反射镜进入太赫兹脉冲发生装置；电子枪接收紫外激光脉冲以及太赫兹脉冲进入电子枪腔室产生电子脉冲；电子聚焦装置安装在电子枪腔室和样品室之间；样品室内沿着电子脉冲出射的方向依次放置样品组件和成像装置；样品室的外部正对成像装置的位置放置相机。该装置可运行在反射或者透射模式，可进行可逆和不可逆过程的研究且兼具高亮度和高时空分辨。

摘要： 本实用新型公开了一种可收集和测量超快电子衍射的探针电子脉冲电荷的装置，包括电荷收集测量装置，所述电荷收集测量装置的外侧设置有真空腔室，所述真空腔室的上侧设置有连接杆，所述连接杆的上侧设置有位移台，所述位移台的左侧设置有真空导线一，所述位移台的右侧设置有真空导线二，设置有所述位移台的前侧设置有旋钮一，所述位移台的右侧设置有旋钮二，所述位移台的上侧设置有旋钮三，所述旋钮三的前侧设置有旋钮四，所述旋钮四的左侧设置有BNC接口。该可收集和测量超快电子衍射的探针电子脉冲电荷的装置，如果电子脉冲是经过汇聚的，可得到总电荷量信息，如电子脉冲未经过汇聚，移动装置位置，最终获得电子脉冲内部电荷密度分布信息。

摘要： 本实用新型涉及一种太赫兹驱动电子脉冲加速的飞秒电子衍射装置。该装置包括飞秒激光器、分束镜、紫外激光脉冲发生装置、太赫兹脉冲发生装置、电子枪、电子聚焦装置、样品室、成像装置以及相机；飞秒激光器出射的飞秒激光通过分束镜后一束飞秒激光进入紫外激光脉冲发生装置，另一束飞秒激光通过反射镜进入太赫兹脉冲发生装置；电子枪接收紫外激光脉冲以及太赫兹脉冲进入电子枪腔室产生电子脉冲；电子聚焦装置安装在电子枪腔室和样品室之间；样品室内沿着电子脉冲出射的方向依次放置样品组件和成像装置；样品室的外部正对成像装置的位置放置相机。该装置可运行在反射或者透射模式，可进行可逆和不可逆过程的研究且兼具高亮度和高时空分辨。

摘要： 一种反射式高能电子衍射仪用电子枪，包括高电压绝缘插头，玻璃壁，金属壁，冷却水，喷嘴，法兰，窗，灯丝，阴极,所述高电压绝缘插头由电缆芯线，高压电和接点组成，所述接点与灯丝连接，所述玻璃壁围绕在灯丝的四周形成U形保护罩，且与灯丝连接，所述金属壁的左端连接在玻璃壁的右端，所述窗的左端连接在金属壁的右端，所述阴极的两端与窗连接，所述喷嘴安装在法兰上，所述冷却水循环在法兰和阴极之间，其优点，高压电源采用模块化形式，体积小，可靠性高，高压对地直接短路，不易损坏电源。