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用高分辨电子能量损失谱方法(HR-EELS)研究铁电薄膜

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@@ 本文主要利用扫描透射电镜下的高分辨电子能量损失谱方法研究BaTiO3(10nm)/SrTiO3(50nm)铁电多层薄膜[1]和高介电Y2O3/Si(001)结构[2]的界面化学反应及缺陷形成.在BaTiO3/SrTiO3多膜中,选区电子衍射图像表明BaTiO3薄层的极化方向垂直于基底表面.

著录项

来源
《电子显微学报》 |2005年第4期|342|共1页
作者
张敬民;
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作者单位

北京大学物理学院电子显微镜实验室,北京,100871;

Martin-Luther-Universit(a)t Halle-Wittenberg,Germany;

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正文语种 chi
中图分类薄膜物理学;
关键词

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