铝电解电容器用腐蚀箔的SEM与EBSD研究

摘要

采用扫描电子显微镜(SEM)和背散射电子衍射(EBSD)技术分析国产铝光箔与进口铝光箔的表面质量、晶粒大小和织构度对阳极氧化腐蚀箔比容的影响.结果表明,由于光箔轧制与再结晶退火工艺的原因,国产铝光箔表面缺陷多,粗糙度大,晶粒小和织构度低,在相同腐蚀条件下,腐蚀箔的比容比进口铝光箔腐蚀后的比客低.且幅度超过5%.