硫醇自组装多晶金表面AFM图像的分形研究

摘要

本文针对多晶粗糙电极表面自组装膜(SAM)体系,提出了利用原子力显微镜(AFM)相图分形维数进行表征的新方法.首先对自组装多晶金电极进行了交流阻抗测试,结果表明随着乙醇自组装液中十二烷基硫醇(C12SH)浓度增大,自组装膜中缺陷面积减少,趋向于形成完整致密的单分子层吸附膜.而对组装电极AFM图像的分形研究表明,在不同C12SH浓度条件下,电极表面高度图分形维教无明显变化,相图却呈现不同的分形特征,且体现的变化规律与交流阻抗测试结果一致,证实了AFM相图分形维数表征法研究粗糙金表面硫醇自组装膜吸附行为的可行性,为粗糙表面分子吸附行为的AFM研究提供了新思路.