首页> 中文期刊> 《小型微型计算机系统》 >可测试性设计的JTAG方法

可测试性设计的JTAG方法

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

本文将从边界扫描路径,测试体系结构,测试状态定义,测试指令安排与板级测试策略五个方面,介绍VLSI电路可测试性设计的JTAG方式.

著录项

来源
《小型微型计算机系统》 |1991年第1期|10-18|共9页
作者
沈绪榜;
展开▼
作者单位

无;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类 TN470.7;
关键词
VLSI; 集成电路; 可测试性; JTAG法;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 基于JTAG标准的电流模A/D转换器可测试性设计 [J] . 王维英 ,姜岩峰 . 微电子学 . 2007,第4期
2. 基于JTAG的板级可测试性设计 [J] . 张国栋 ,朱平云 ,曲晖 . 海军航空工程学院学报 . 2005,第001期
3. JTAG边缘扫描可测试性设计 [J] . 铨方 . 微电子测试 . 1989,第004期
4. 一种基于FABmaster的PCB可测试性设计方法研究 [J] . 朱斌 ,王大伟 ,刘冲 . 航空电子技术 . 2015,第002期
5. 基于量子行为粒子群算法的可测试性设计方法 [J] . 焦鹏 ,王新政 ,谢鹏远 . 舰船电子工程 . 2013,第003期
6. 一种JTAG IP核的设计方案及JTAG逻辑定制的一般方法 [C] . 王维英 ,姜岩峰 . 第十二届全国青年通信学术会议 . 2007
7. 基于MPU可测试性设计扫描测试方法研究 [A] . 李松 . 2020

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号