一种校正基体效应的方法

摘要

介绍了一种实用的校正基体效应的方法。该方法在某铅锌矿2号矿体群的应用表明:X射线荧光法分析结果与化学分析结果相比较,在规定的允许偶然误差限内,对铅和锌其合格率分别为81%和79%,X射线荧光法重复分析铅、锌含量的平均相对误差均小于1%。