一种改进的X荧光分析基体效应校正方法及软件实现

摘要

在能量色散 X荧光谱分析中,使用罗兹方程法校正基体效应,存在一定的局限性.为了获得最佳校正效果,本文提出了一种改进的基体效应校正法.该法是以罗兹方程为基础,在校正模型中引入特散比,并加强待校正元素在模型中作用的一种经验系数法.为了能够快速地对地质样品进行批量分析,在 Windows98平台上,运用 VC++5.0工具编制了分析软件,由其完成全部校正分析过程.