液／液界面双电层统计热力学

摘要

应用系综统计法处理液/液界面双电层体系.根据MVN模型.建立系统的正则及巨正则配分函数,导出系统各热力学量统计平均.拟合计算界面内层构型熵(△S_m)及内层微分电容(C_1)随表面电荷密度(σ~m)变化关系.理论同时表明,C_1与σ~m或△(?)_1(界面内层电势降)的涨落存在确定关系.