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基于牛顿插值的九点八线式CCD细分技术及其应用

         

摘要

依据面阵式CCD细分技术的原理,提出了一种基于牛顿插值的九点八线式CCD细分方法,并与平均值法进行了对比。在图像放大、芯片共面性无损检测中的应用证明了该方法计算简便快速。与原图像对比,细分后的图像边缘模糊效应较小,相关度较高。可以提升图像的分辨力以及图像的定位精度。

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