基于LK8820测试机的芯片参数测试研究

摘要

作为LK8810S升级版本的LK8820测试机,硬件资源更加丰富,测试机函数进一步优化。分析了LK8820测试机的特点,并以CD4511芯片为例,通过CD4511测试电路设计和搭建、静态工作电流测试、输出高电平电压测试和输入高电平电流三种参数的测试,探究基于LK8820测试机的芯片参数测试的方法和过程。此种基于LK8820的数字芯片直流参数测试方案可操作性强,测试速度快,推动了OBE理念教学,提升了集成电路产业链效率。