薄膜形貌对紫外光电探测器的稳定性探究

摘要

研究了 4,4,4"-三(苯基(间甲苯基)氨基)三苯胺(m-MTDATA)薄膜形貌对紫外光电探测器稳定性的影响.在不同界面上制备m-MTDATA薄膜,利用原子力显微镜分析形貌,并在此基础上制备了相应的紫外探测器.通过光谱响应测试系统研究不同器件的光响应度,并对器件的稳定性能进行了测试.通过原子力显微镜表征表明ITO/PEDTO:PSS衬底上m-MTDATA形成全覆盖薄膜仅需较低的厚度,修饰层改善了 ITO界面的平整性以减少其表面的缺陷,提高了阳极对空穴的收集能力.并且使有机小分子活性层的晶粒更加稳定,抑制了紫外光的持续照射而引起的界面老化的问题,从而提高了器件的稳定性.