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低能Ar3+ + Ar碰撞反应过程实验研究

             

摘要

测量了入射离子能量为27 keV、45 keV和66 keV时Ar3+ + Ar碰撞反应各子过程的分截面,通过将其归一化到Bliman,Dousson等人所测量的截面值,获得了绝对截面.结果表明,该能区电子俘获过程仍占主导地位,但转移电离过程已不能忽略.结果还表明,各子过程反应截面基本不随能量变化.与考虑日电离的MCBM(Molecular Coulombic overBarrier Model)模型比较发现,模型所给截面普遍高于实验测量值,这在一定程度上是由于归一化时带来的系统误差.在误差允许的范围内,单电子和双电子俘获截面符合的比较好,但三电子俘获截面却相差一个数量级.对于实验观测到的转移电离过程,模型却预言并没有此过程发生.

著录项

  • 来源
    《原子与分子物理学报 》 |2006年第4期|631-635|共5页
  • 作者单位

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 碰撞与散射 ;
  • 关键词

    碰撞反应; 截面 ; 转移电离; MCBM模型;

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