电子元器件银离子迁移评价方法的探究

摘要

随着电子设备变得更小、更轻、更先进,使用环境更加恶劣,发生银离子迁移的几率也比以往更大.本文在详细介绍银离子迁移现象、机理的同时,全面分析了影响银离子迁移的各类因素,得出评价银离子迁移切实可行的加速试验方法和时间公式,有效地缩短了评价时间.根据经验总结了故障解析的流程以及银离子迁移的发生条件,提出了在银离子迁移过程的每一个步骤中采取措施的策略,防止迁移的再发生.