首页> 中文期刊> 《电子测试》 >一个疑似银离子迁移所致故障案例的分析

一个疑似银离子迁移所致故障案例的分析

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

本文针对本公司的某型产品进行详细的故障分析,不断寻找产品故障的深层次原因,并排出其他原因.最终确定故障原因为银离子迁移,并依此提出一个合理的产品故障解决方案.

著录项

来源
《电子测试》 |2018年第17期|29-30|共2页
作者
张建平;
展开▼
作者单位

中国船舶重工集团公司第七二六研究所,上海,201100;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
电池; 漏电; 继电器; 银离子迁移;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 活性银离子抗菌液护理对化疗所致口腔溃疡的效果分析 [J] . 唐雨昕 . 全科口腔医学电子杂志 . 2019,第012期
2. 贴片电阻银离子迁移失效分析及工艺优化 [J] . 莫福广 ,莫柳钰 ,梁军 . 装备制造技术 . 2021,第005期
3. 银离子迁移对DCS系统卡件寻址机制影响分析及对策 [J] . 陈岱江 ,唐文强 . 自动化应用 . 2017,第009期
4. 厚膜银导体银离子迁移的试验设计要点分析 [J] . 廉大桢 ,王社教 . 企业技术开发：下旬刊 . 2013,第006期
5. 厚膜银导体银离子迁移的试验设计要点分析 [J] . 廉大桢 ,王社教 . 企业技术开发（下半月） . 2013,第012期
6. 厚膜银导体银离子迁移的试验设计 [C] . 董永平 . 第十六届全国混合集成电路学术会议 . 2009
7. 光敏热显成像材料热显影过程中影响银离子迁移因素的模拟研究 [A] . 范明明 . 2007

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号