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时序电路测试中敏化路径选择研究

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摘要

时序电路测试产生过程中,在进行敏化路径选择时会遇到失败问题.本文针对迭代组合阵列模型测试中产生的这些问题进行了有益的探讨,并提出了改进的时序电路测试产生算法,使之更加完善.

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来源
《装甲兵工程学院学报》 |1998年第3期|P.29-33|共5页
作者
王仲; 宫云战; 康葳;
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作者单位

装甲兵工程学院计算机教研室!北京100072;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN791;
关键词
时序电路测试; 迭代组合阵列; 敏化路径;

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