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多值逻辑电路测试的敏化路径法研究

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多值逻辑和多值逻辑电路近年来得到了越来越多的应用,研究多值逻辑电路的测试,给出了采用敏化路径法计算给定故障测试矢量的方法,并对多故障的测试生成进行了研究.结果表明若同时对故障位置的多条路径进行敏化,则可以方便地求出故障的测试矢量.

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来源
《第二届全国信息获取与处理学术会议》|2004年|60-61|共2页
会议地点大连
作者
潘中良;
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作者单位

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类逻辑电路;测试和检验;
关键词
多值逻辑电路; 固定型故障; 测试生成; 路径敏化;

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