XRF滤纸片法测定铁基样品中十种元素的方法研究

摘要

本法在Ｘ荧光光谱仪上采用滤纸片法测定样品，避免了基体效应的影响，因而可适用于多种基体的样品，扩大了分析方法的适应性。