回归分析在X射线检测工艺参数选择中的应用

摘要

cqvip:本文对X射线检测工艺参数(底片黑度与管电流、管电压、透照距离、透照时间、透照厚度)之间的关系进行了公式推导。公式模型使用回归分析方法进行分析,相关系数R大于0.98,相关关系成立。该模型能够帮助检测人员灵活的控制射线底片黑度,节约时间和成本。