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镀镍工艺参数多元回归分析与镀层厚度预测研究

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摘要

ABSTRACT

第一章 绪论

1.1 研究的背景和意义

1.2 镀镍发展史

1.3 国内外研究现状及趋势

1.4 课题来源

1.5 论文章节的安排

第二章 电镀工艺及其影响因素

2.1 镀镍层性质

2.2 氨基磺酸镀镍工艺的优缺点

2.3 氨基磺酸镍电镀工艺的应用

2.4 氨基磺酸镀镍原理

2.5 工艺条件对电流效率的影响

2.6 连接器电镀工艺流程

2.7 电镀机简介

2.8 电镀层质量检验及设备

2.9 电镀参数研究常用仪器

第三章 试验设计及多元回归方法

3.1 实验设计(Design of Experiment, 简称DOE)

3.2 正交试验在电镀工艺参数研究中的应用

3.3 多元回归方法

3.4 MINITAB 在电镀工艺参数研究中的应用

3.5 EXCEL 在多元线性回归中的应用

第四章 参数优化在电镀效率与膜厚预测中的应用实例

4.1 背景说明

4.2 改善前的电镀质量状况

4.3.电镀工艺参数分布状况

4.4.影响阴极电流效率的工艺参数分析

4.5 试验试剂与仪器

4.6 试验步骤

4.7 单一工艺参数对电流效率的影响

4.8 双因素对电流效率的影响

4.9 生产中对膜厚控制预测

4.10 生产中参数控制

4.11 效益评估

第五章 结论及展望

5.1 主要结论

5.2 后续主要工作

参考文献

致谢

攻读硕士期间发表的学术论文

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摘要

镀层厚度是影响镀层质量的关键因素之一,电镀生产中各项工艺参数对电镀效率及镀层的沉积速度有着不同的影响。电子行业的生产方式为少量多次的生产,批次间的质量有一定的差异,本文用多元回归方法应用于电镀效率的研究及镀层膜厚的预测,通过对影响电镀效率因素的分析,来预测镀层厚度,改善产品的质量稳定性,并降低生产成本,从而提升产品的竞争力和利润率。本文开展了镀镍工艺参数对电流效率,以及镀层厚度预测的研究。首先介绍了电镀生产中各因素对镀镍工艺的影响,并介绍了电镀生产研究中常用的研究方法:试验设计及回归分析方法。其次介绍了电镀生产中的质量状况,在实际生产状况下分别研究了单因素(镍浓度,pH值,电流密度)对电镀效率的影响,其后用DOE及多元回归方法确定了pH值及电流密度对电流效率影响的回归方程,表明pH值对电流效率的影响要大于电流密度的影响;并预估了镀层厚度,与实际生产中的参数符合性较好,为镀层厚度的预估提供了计算依据;并设计一程式以快速确定生产中的参数值;电镀质量控制的关键是控制电镀参数的稳定。最后提出了自动控制是未来电镀的发展方向。

著录项

  • 作者

    潘玉谱;

  • 作者单位

    上海交通大学;

  • 授予单位 上海交通大学;
  • 学科 工业工程
  • 授予学位 硕士
  • 导师姓名 习俊通;
  • 年度 2008
  • 页码
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 中文
  • 中图分类 金属复层保护;
  • 关键词

    镀镍; 回归; 镀层厚度预测;

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