非晶硅测辐射热计的性能将可超越红外焦平面技术

摘要

非晶硅测辐射热计技术在性能方面的进展一直有些滞后。然而通过对材料进行改进和采用更小的像元,可以使该技术在下一代非致冷热成像领域处于领先地位。