首页> 中文期刊> 《红外》 >利用近红外发光法的非破坏测量

利用近红外发光法的非破坏测量

         

摘要

最近,近红外分光法在许多应用领域受到关注。最大的一个原因就是因为近红外分光法适合用于非破坏,无侵害,非接触分析。另外,由于还以同时进行多种成分分析,因此,也可用于质量评价。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号