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Pb1-xGexTe材料及光学薄膜器件温度稳定性的研究

         

摘要

@@ 1薄膜光学和光学薄膜技术以及光学薄膜器件温度稳定性的研究rn自二十世纪三十年代年代中期出现反射镜、减反射膜和利用光的干涉效应的滤光片以来,薄膜光学和光学薄膜技术走过了半个多世纪,已经发展成为一门成熟的工程技术学科.

著录项

  • 来源
    《红外》 |2001年第4期|1-6|共6页
  • 作者

    李斌; 张凤山; 张素英;

  • 作者单位

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

    中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 半导体技术;
  • 关键词

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