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面列阵焦平面探测器的多点定标非均匀性校正算法及其实现

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面列阵焦平面探测器的非均匀性校正技术是国内外正在探索中的一项关键技术.文章首先介绍了探测器非均匀性产生的原因及现在被普遍采用的非均匀性校正方法;重点讨论了两点、多点温度定标法的算法推导及其软硬件实现方法.

著录项

来源
《红外》 |2002年第8期|24-29|共6页
作者
施立原;
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作者单位

中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类半导体技术;
关键词
红外焦平面探测器; 非均匀性校正; 两点法; 多点法;

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