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韩孝勇; 张德胜; 等;
西安电子科技大学;
HIC导带; 电学检测; 评估; 混合集成电路 ; 封装 ;
机译:导瓦探测技术<关于缺陷检测数据分析和恶化评估>
机译:临床前评估Ethicon Securestrap ? sup>?开放式可吸收带固定装置和Ethicon Physiomesh联合使用的效果。开放式柔性复合网状装置可缓解腹疝修补术中外科医生的压力[勘误]
机译:对Ethicon Securestrap ? sup>开放式可吸收带固定装置和Ethicon Physiomesh组合使用的效果的临床前评估。腹侧疝修补术中外科医生在应力作用下打开柔性复合网状装置
机译:界面缺陷钝化对SiO_2 / 4H-SiC界面导带偏移的影响
机译:评估CRISPR / Cas9介导的肌球蛋白缺陷型先天性肌营养不良1A型的治疗潜力。
机译:临床前评估结合使用EthiconSecurestrap®开放式可吸收带固定装置和Ethicon Physiomesh™开放式柔性复合网状装置对腹疝修补术中外科医生的压力
机译:缺陷带对辐照Gaas和si的电学特性的影响
机译:CmOs IC缺陷的电学特性和检测方法。
机译:涡流缺陷检测信号评估装置,涡流缺陷检测装置及评估涡流缺陷检测信号评估装置的涡流检测信号的方法
机译:当传送带移动通过传送带系统时,在这些increutado中检测作为导磁金属带的传送带拼接缺陷的方法,皮带传送带至少有一个dondedicha拼接;包括输送机的运输系统Ador。
机译:电角度缺陷外观检测单元,即旋转角度检测装置,具有返回状态评估部分,其基于角度和值来评估检测设备从缺陷状态返回到正常状态
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