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余圣发; 董兆鑫;
不详;
集成电路; 测试; 可编程逻辑器件;
机译:IC测试仪第2部分:菜单结构和测试向量的构建
机译:ASIC中总剂量引起的延迟故障的故障建模和最坏情况测试向量
机译:暴露于总剂量下的顺序ASIC的故障建模和最坏情况测试向量
机译:基于细胞基ASICS组合电路诱导的逻辑断层的总剂量最坏情况测试向量
机译:生成电路的测试向量。
机译:在参考环境中评估快速诊断测试CareStart pLDH疟疾(Pf-pLDH / pan-pLDH)以诊断疟疾
机译:测试时间约束下测试向量选择与测试调度的集成技术
机译:基于测试向量转换的数字硬件测试系统分析。
机译:自动测试向量生成方法,利用自动生成的测试向量的测试方法,芯片制造方法和自动测试向量生成程序
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